美國DIATEST孔徑測量儀 C3-AL用于測量內(nèi)徑和外徑精度為 ± 2 μm

一，產(chǎn)品介紹美國DIATESTDIA-COME

美國DIATEST用于測量內(nèi)徑和外徑的靈活且堅固的測量臺

美國DIATEST DIA-COME 測量臺有不同的尺寸、布局和測量范圍。它們通常在生產(chǎn)機器附近使用，例如用于樣品測量。

美國DIATEST DIA-COME C2 測量臺有 3 種尺寸可供選擇。它們有一個固定的和一個移動的測量觸點。動觸頭的測量范圍為 20 mm。C2 表涵蓋不同的測量范圍：

內(nèi)徑 30 – 275 毫米

外徑從 0 – 245 毫米

內(nèi)齒輪規(guī)Mi = 70 – 275 mm

外齒輪規(guī)Ma = 0 – 245 mm

美國DIATEST DIA-COME C3 測量臺有 4 種尺寸可供選擇。它們有兩個固定的和一個移動的測量觸點。動觸頭的測量范圍為 20 mm。C3 表涵蓋不同的測量范圍：

內(nèi)徑 35 – 450 毫米

外徑 0 – 420 毫米

為了不扭曲或損壞工件，可以連續(xù)調(diào)整測量力。測量精度為 ± 2 μm。

額外的應(yīng)用套件 (Kits) 為最常見的測量任務(wù)提供解決方案，例如用于 11.5 mm ID 的小直徑、平底、球砧或凹槽。由于配件種類繁多，可以檢查許多不同的測量任務(wù)（例如內(nèi)、外凹槽、同心度或錐度）?？筛鶕?jù)要求提供特殊測量插件。

可以使用機械或數(shù)字指示器，也可以使用感應(yīng)式和增量式探頭、PC、DIATRON 或打印機。通過使用適當(dāng)?shù)闹甘酒?，測量值可以無線(DIAWIRELESS)傳輸?shù)絇C 或 DIATRON 。

調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)或量塊可用于調(diào)整和調(diào)零。

DIA-COME 用于齒輪測量，請參閱齒輪測量。

美國DIATEST型號：

美國DIATEST 2-Point table C2

美國DIATEST 3-Point table C3-AL

美國DIATEST 3-Point table C3-JS

美國DIATEST孔徑測量儀 C3-AL用于測量內(nèi)徑和外徑精度為 ± 2 μm

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